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四探针电阻率测试仪的测试是怎样的?

发布时间:2019-06-24 14:11:50  所属类别:金相检验

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四探针电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置;

可以测量硅、锗单晶电阻率和硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃和其他导电薄膜的方块电阻,主要用于评估半导体薄膜和薄片的导电性能。

广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。

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电阻率是反映半导体材料导电性能的重要参数之一。测量电阻率的方法很多,四探针法是一种广泛采用的标准方法。

它的优点是设备简单、操作方便,精确度高,对样品的形状无严格要求。

最常用的是直线型四探针。四根探针的针尖在同一直线上,并且间距相等,都是S,一般采用0.5mm的间距,不同的探针间距需要对测量结果做相应的校正。

四探针电阻率测试仪测试四探针笔方法:

一般情况下,更换钢针之类,不需要拆开探头,只需要用拔出要更换的钢针,再重新安装新针,如果断针在孔内并且不拆开难以取出,必须按照以下步骤进行操作:

1、先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝,轻轻脱下尾部航空插口,保证探针头部旋转时同步旋转,防止扭线断线,短接;

2、轻轻拧开探针头子,然后小心将铜片拉出,记住七片绝缘片与铜片之间的位置,(四片铜片每片间夹一片绝缘片,两边的铜片外侧各两片),将断针从铜片卡口座里取下即可;

3、特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱,铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列,并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列,以免短接;

4、安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子,并先将探针头子拧紧,再将尾部航空头插上,并且旋紧小螺丝;

5、将针装好,注意针头针尾方向,尖头为探针头部。

仪器由主机、测试台、四探针探头、计算机等部分组成,测量数据既可由主机直接显示,亦可由计算机控制测试采集测试数据到计算机中加以分析,然后以表格,图形方式统计分析显示测试结果。

仪器采用了最新电子技术进行设计、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。

本仪器适用于半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。

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金相检验相关问答

问:什么材料适合做金相分析?有哪些标准吗?

答:焊接材料、铸铁、金属材料、铸钢、有色金属、金属制件等都可以做金相分析,参考标准很多,下面为其中部分比较重要的标准:
CB 1030-1983 蠕虫状石墨铸铁金相检验
CB 1156-1992 锡基轴承合金金相检验
GB/T 11354-2005 钢铁零件渗氮层深度测定和金相组织检验
GB/T 13925-2010 铸造高锰钢金相
GB/T 15749-2008 定量金相测定方法,具体的细节可以到科标检测做更多咨询

问:金相检验和理化分析有什么区别?

答:金相检验是通过将材料打磨成光滑的薄片,然后在金相显微镜下观察微观下的材料晶体结构,而这些微观组织的不同形状,就决定了该材料的性能;
理化分析是通过物理、化学等分析手段对材料进行分析,主要是确定物质的构成成分

问:金相试样的制备步骤和对制备样品的要求有哪些?

答:金相试样的制备步骤:取样→磨制→抛光→浸蚀。对制备好的样品要求是无磨痕、麻点和水迹,夹杂、石墨不脱落,组织真实无假象,组织有代表性。

 

 

问:现行使用评定晶粒度的标准名称和标准号各是什么?

答:现行使用评定晶粒度的标准为GB/T6394-2002“金属平均晶粒度测定法”和GB/T4335-1984“低碳钢冷轧薄板晶粒度测定法”

 

 

文章标签:电阻率测试仪
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